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立芯半导体申请用于MKS真空计校准的

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立芯半导体申请用于MKS真空计校准的压力检测方
来源: 未知 作者: admin 日期:2026-04-241

  国家知识产权局信息显示,无锡立芯半导体设备有限公司申请一项名为“一种用于MKS真空计校准的压力检测方法及其装置”的专利,公开号CN121917148A,申请日期为2026年3月。

  专利摘要显示,本发明涉及真空测量校准技术领域,具体涉及一种用于MKS真空计校准的压力检测方法及其装置,该方法包括:搭建适配MKS真空计的压力检测平台,完成设备安装与密封调试;设定校准参数与真空度梯度,启动真空泵组构建目标真空环境;同步采集MKS真空计检测值与标准真空源基准值,生成实时数据曲线;通过数据比对分析计算偏差值,生成校准曲线与修正参数;输出包含校准结果、数据图谱和维护建议的检测报告。本发明通过标准化流程与精准数据采集分析,实现MKS真空计全量程、高精度校准,提升真空计在半导体、光伏等行业的测量可靠性。

  天眼查资料显示,无锡立芯半导体设备有限公司,成立于2020年,位于无锡市,是一家以从事批发业为主的企业。企业注册资本580万人民币。通过天眼查大数据分析,无锡立芯半导体设备有限公司专利信息2条,此外企业还拥有行政许可5个。

  声明:市场有风险,投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成,仅供参考,不构成个人投资建议。

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